FIB-SEM

Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomassstab. Beschleunigen Sie Ihre Tomografieabläufe: Verwenden Sie bis zu 100 nA FIB-Strom mit dem exzellenten Punktprofil, um die Lücke zwischen Mikro- und Nano-Patterning zu schliessen. Mit Crossbeam verbinden Sie die Imaging-und Analyseleistung der GEMINI-Elektronensäule mit der Materialverarbeitungs- und Probenpräparationsleistung eines FIB der nächsten Generation im Nanomaßstab. Verwenden Sie das modulare Plattformkonzept unserer FIB-SEM Mikroskope und die offene, leicht zugängliche Softwarearchitektur für durchsatzstarke Nanotomografie und Nanofabrikation für anspruchsvollste, leitfähige oder magnetische Proben.