Picometergenau, hohe Bandbreite, für die Rastersondenmikroskopie
Hochlinearer Scanner für AFM / SPM
Bis 20 Picometer-Auflösung, Hysterese <1 nm
Hohe Bandbreite ohne Regelverluste durch neues Antriebskonzept
Höchstauflösendes Manipulations-Tool für Bio- / Nanotechnologie
Resonanzfrequenz 4,0 kHz (X, Y), 11 kHz (Z)
Stellweg 1 µm × 1 µm × 0,8 µm