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LABOR FÜR IR / ATIR / IR-MIKROSKOPIE (Infrarotspektroskopie und -mikroskopie) Die Infrarotspektroskopie, kurz IR-Spektroskopie, ist ein physikalische...

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM = Atomic Force Microscopy) ist ein im Jahre 1985 entwickeltes Rastersondenmikroskopieverfahren. Die Rasterkraftmikros...

LABOR FÜR REM/EDX / ESMA - ANALYSEN (Rasterelektronenmikroskopie und Röntgen­mikrobereichs­analytik) Die Röntgenmikrobereichsanalyse (EDX) erlaubt in...

LABOR FÜR PROFILOMETRIE und Rauheitsmessungen Mittels optischer Profilometrie kann die Topographie einer Oberfläche berührungslos mit einer vertikal...

Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer P...

Bei einer Fehler- oder Schadensanalyse geht es ganz allgemein immer darum herauszufinden, warum ein Bauteil unter bestimmten Bedingungen versagt hat b...

Die Aufklärung des Aufbaus und der Zusammensetzung von Schichtstrukturen vom Mikrometer bis in den Nanometerbereich gehört zu unserem Dienstleistungsa...

Wir untersuchen Oberflächen vor uns Nach Reinigungsprozessen zur Evaluierung der Reinigungsverfahren und zur Identifizierung von Kontaminationen und R...

Wir Analysieren Rückstände, filmische Verunreinigung oder auch Partikel Kontamination. Kontaminationen treten in unterschiedlichster Form an Produkt...

Die Benetzbarkeit (messbar über den Kontaktwinkel) und die Oberflächenspannung sind wichtige Kenngrößen für Eigenschaften wir Lackierbarkeit, Verkleb...

Die Oberflächenanalytik beschäftigt sich mit der Untersuchung der Oberfläche einer Probe. Dabei kann es sich sowohl um eine strukturelle als auch eine...

HAFTUNGSVERSAGEN UND ADHÄSIONSPROBLEME Von besonderem Interesse wird die Haftung meist dann, wenn es zu Haftungsproblemen kommt. Ursache können z.B.

LABOR FÜR XPS ANALYSEN (ESCA/PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE) ELEMENTE, OXIDATIONSZUSTÄNDE - QUANTITATIV UND OBERFLÄCHENEMPFINDLICH Die XPS Analyse (Ph...

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine Technik zur hochauflösenden Abbildung von unterschiedlichsten Proben. Die enorme Auflösung und Tiefens...

Morphologie und Topographie beschreiben eine Oberfläche qualitativ bzw. quantitativ (z.B. durch Rauheitsparameter nach ISO 4288 oder ISO 25178). Die...