Stoffanalyse

Technische Ausstattung: - ZEISS EVO MA 15 – Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuum und variablen Druckbereich. - Computergesteuerter REM mit Wolfram-Kathode - Dreilinsige Elektronenoptik Optibeam-Strahlkontrolle - Variabler Druckbereich zwischen 10Pa – 400Pa - EasyVP Druckeinstellung von HV zu VP ohne Wechsel der Druckreduzierblenden - Gaseinlass: Luft Spezifizierte Ortsauflösung (Sekundärelektronen): 3.0nm bei 30kV (ETSE) 3.4nm bei 30kV (VPSE) 4.0nm bei 30kV im BSD 8.0nm bei 3kV im Hochvakuum Beschleunigungsspannung: 0.2V-30 kV Sonderstrom:0.5pA – 5µA Software: - SmartPI – Partikelanalyse mit einem Bruker XFlash6-10 - Detektor : 10mm² mit einer Auflösung von 129 eV - Software Bruker: Quantax Basic - SmartSEM Vorteile: - Vollautomatische Materialanalyse der Partikel (siehe Beispielbericht nach ISO16232) - Aufnahme von bis zu fünf Filter gleichzeitig - kundenspezifische Rezepte für die Partikelanalyse - Einzelanalyse von relevanten Partikeln - schnelle Datengewinnung