Materialanalyse mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) und EDX

Werkstoffuntersuchung mittels Bildgebung UND Elementaranalyse für diverse Materialien und Stoffe. Vergrößerungen von 15fach bis 100.000fach sind möglich. Mithilfe der Rasterelektronenmikroskopie sind akkurate und einfache Messungen möglich. Unser hochauflösendes FE-REM verfügt dabei über einen extrem feinen Elektronenstrahl mit einer lateralen Auflösung von nur 1,5 nm! Damit lassen sich sowohl übersichtliche Merkmale, aber auch kleinste Details untersuchen. Die Bildgebung erfolgt entweder topographiesensitiv (SE-Modus) oder materialcharakteristisch (BSE-Modus). Man kann daher bereits durch die Bildgebung wichtige Informationen erhalten. Außerdem verfügt unser FE-REM über einen hochsensitiven EDX-Detektor für Elementanalysen für alle Elemente von Bor (Ordnungszahl 5) bis Uran (Ordnungszahl 92). Von der Bestimmung von Schichtdicken und Schichtaufbau, über Partikelanalyse und Partikelgrößenverteilung, Gefügecharakterisierung und Korngrößenverteilung bis hin zu Korrosionsangriffen und Oxidationsverhalten lassen sich viele Fragen klären. Unsere Präparationsmöglichkeiten können die Reichweite und Anwendungsmöglichkeit gesteigert werden. Sprechen Sie uns an!