Probe Cards

FEINMETALL nimmt heute eine technologische Spitzenposition bei Prüfkarten für die Kontaktierung von Halbleitern ein. ViProbe® Prüfkarten Anpassbar an eine enorme Bandbreite an Anwendungen ist die ViProbe® seit mehr als 25 Jahren eine bewährte buckling beam Technologie, welche vor allem für ihre einzigartig einfache Reparierbarkeit geschätzt wird. ViProbe® II Prüfkarten Neue Version der vertikalen Kontakttechnologie mit Fokus auf erhöhter Lebensdauer und weiteren Vorteilen. LiProbe® Prüfkarten Prüfkarte mit Lamella Kontaktlelementen, insbesondere geeignet für HF Anwendungen mit einer hohen Designvielfalt. FeinProbe® Prüfkarten Die Kontaktierung von WLCSP-, SiP- oder Flipchip-Wafern erfordert Prüfkarten, die hohen Strömen standhalten und gleichzeitig eine hohe Signalintegrität gewährleisten. Die FeinProbe® adressiert diese Anwendungen mit Bravour.